高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
高低溫試驗箱
高低溫試驗箱產(chǎn)品說明
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施,才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學(xué)概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。
可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
參照標(biāo)準(zhǔn)
滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《技術(shù)條件》進行設(shè)計制造,可進行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗。
主要技術(shù)參數(shù)
型號: GDW-100C型
工作室尺寸(D×W×H): 400×500×500㎜
外型尺寸(D×W×H): 1050×1000×1550㎜
溫度范圍: -40℃~100℃
溫度均勻度: ≤ 2℃ (空載時)
溫度波動度: ±0.5℃ (空載時)
溫度偏差: ≤±2℃
升降溫速率: 0.7℃~1.0℃/min (空載時)
時間設(shè)定范圍: 0~999 小時